制造商：三思纵横
用途：专业测量⾮⾦属材料的拉伸、压缩、弯曲、剪切、剥离、撕裂等⼒学试验。
优势：采⽤⾼刚性⻔式框架和伺服电机驱动，确保精准加载与稳定运⾏，提供单空间/双空间机型，满⾜多样化检测需求。
制造商：山材试验
型号：SCV-50CT
用途：对薄层、微小件及脆硬材料的精密硬度测试。
优势：微痕检测能力和跨尺度统一标尺特性，成为材料微观分析、表面工程及科研领域的首选设备。
制造商：艾斯瑞仪器
型号：ASR-1025B
用途：量化粘接强度，精确测量剥离力和剥离强度。
优势：它的用途非常专一且关键，广泛应用于需要对粘接接口进行质量验证的几乎所有工业领域。
制造商：德国耐驰
型号：DIL402 Expedi s Classic
用途：测试线性热膨胀系数(CTE)。
优势：覆盖从室温至1600°C的极宽范围。高加热功率（最高加热速率可达50K/min）和高冷却速度，大大提高了测试效率。
制造商：德国耐驰
型号：LFA467HT HyperFlash
用途：可在室温至1250°C之间精确测量材料的热扩散系数、比热与导热系数。
优势：仪器使用创新的氙灯光源系统，拥有超长的光源寿命，在宽广的温度范围内提供了精确的导热测量，基本无耗材。
制造商：德国耐驰
型号：STA449F5 Jupiter
用途：观察材料化学反应的微观机制，指导烧结工艺、原料筛选。
优势：同步热分析仪（STA）将热重分析 TG 与差热分析 DTA 或差示扫描量热 DSC 结合为一体，在同一次测量中利用同一样品可同步得到热重与差热信息。
制造商：日立
型号：SU8700
用途：获得样品表面极其细微的立体形貌图像，分辨率可达纳米级别，远超光学显微镜。观察材料的断口结构、陶瓷的晶粒大小、涂层的截面厚度和结合情况。
检测能力：可检测从钠(Na)到铀(U)的所有元素，检测精度可达0.01%。
优势：非破坏性检测，样品制备简单，分析速度快，结果准确可靠。
制造商：布鲁克
型号：XFlash Detector 760
用途：对样品进行微区元素定性和定量分析。可以生成元素分布面扫描图，直观展示不同元素在样品表面的分布情况。
优势：优化的设计降低了背底和吸收的影响，使定量结果更为准确可靠。更低的背底和吸收使检测限更小，可以检测到更低含量的元素。
制造商：安东帕
型号：XRDynamic 500
用途：1）物相分析与鉴定：定性物相鉴定与定量物相分析2）微结构表征晶粒尺寸计算、结晶度测定、晶格应变分析。
优势：XRDynamic 500 的 TruBeam™ 理论结合了大测角半径、真空光路和全自动 X 射线光学/光束几何变化。借助具有优化工作流程的直观软件，使用各种仪器配置测量一系列样品。采用标准 Bragg-Brentano 配置，实现了一流的分辨率 (LaB₆ 第一个标准峰的 FWHM < 0.021)。出色的信噪比，测量背景减少 50% 以及更低的寄生空气散射。
制造商：德国徕卡
型号：LEICA DM4M
用途：自动测量和统计金属、陶瓷、矿物等材料中晶粒或颗粒的尺寸和分布。偏振光显微镜可观察晶体的消光现象、干涉色等，用于初步矿物或晶体鉴定。
优势：高对比度、高分辨率、多种观察模式获得最真实、最清晰的微观结构图像，确保分析结果的准确性。高对比度、高分辨率、多种观察模式。获得最真实、最清晰的微观结构图像，确保分析结果的准确性。
制造商：扬子电子
型号：YD2828B/扬子
用途：测量陶瓷的介电常数，介电损耗因子。
优势：0.05%的基本测量准确度，最高达50次每秒的测试速度，20Hz—1MHz测试频率, 分辨率10 mHz。
制造商：中科微纳
型号：GEST-121
用途：测量体积电阻和表面电阻。
优势：测量范围极宽，通常可覆盖10^4 Ω 到 10^16 Ω 的超高阻值。高精度和高稳定性保证了即使在测量极高电阻时，结果依然可靠。
制造商：安东帕
型号：ViscoQC 300-R
用途：材料的粘度测试。
优势：黏度范围从 3 mPa·s 到 40,000,000 mPa·s6 个 RH 转子，用于测量中等粘度样品。
制造商：安东帕
型号：UI trapyc3000
用途：沥青，焦炭，糊料真密度测试。
优势：精确测量材料的真实体积，并由此计算出关键参数即真实密度。
制造商：冉绘实业
型号：DHG-9140A
用途：主要用于对物品进行恒温干燥、热处理和实验。
优势：强制鼓风带来的均匀性、精确的温控、坚固耐用的材质和关键的超温保护，在可靠性和安全性上表现出色。
制造商：冉绘实业
型号：SX2-10-12N
用途：灰分，挥发分测试。
优势：保温性好，温度控制精确可靠。
制造商：华升煤化工
型号：GM-V
用途：焦炭粉末样品的电阻率测试。
优势：获得准确、可靠、可重复的粉末电阻率数据，用于评价、分级、质量控制和研究开发粉末材料的导电性能。
制造商：梅特勒
型号：DP70mELTING Point System
用途：软化点测试。
优势：实现快速、客观、精确的物质熔融特性测定，为产品的纯度鉴定、质量控制和性能评估提供关键数据。
制造商：真理光学
型号：LT2100 真理光学
用途：测量粉体的粒径分布。
优势：LT2100主机采用激光衍射法的粒度分析系统，粒径范围0.05um至1200um, 该系统采用全新的光路设计及改进型的光学模型和优化的反演算法，克服了爱里斑的反常变化(ACAD)对粒度分析结果的干扰，且无需选择分析模式。
制造商：安东帕
用途：测量ZETA电位。
优势：采用先进的PALS相位分析技术，参考光路有专门的探测器实时监控参考光束，使得测试灵敏度和稳定性更高。精度优于2%，灵敏度0.1 mg/mL，Zeta 电位范围+1000 mV--1000 mV，电位可测量粒径范围3.8nm-100μm。
制造商：花潮实业
用途：测试固体的密度。
优势：应变式高精传感器，ABS外壳超大空间玻璃防风罩，线性误差±0.003g，分度值0.001g。